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簡要(yào)描(miáo)述:NanoSystem NV-3200非接觸(chù)式3D光學(xué)輪廓儀(yí)為LCD,IC Package,Substrate,Build-up PCB,MEMS,Engineering Surfaces等領域提供納(nà)米級(jí)別精度的(dí)測量.
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| 品牌(pái) | 其(qí)他品牌(pái) | 價(jià)格區間 | 麵(miàn)議(yì) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品(pǐn)種類(lèi) | 非接(jiē)觸式輪廓儀(yí)/粗糙度儀(yí) | 產地(dì)類(lèi)別(bié) | 進口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電(diàn)子/電(diàn)池,汽車(chē)及(jí)零(líng)部件(jiàn),電(diàn)氣 |

NanoSystem成立(lì)於2003年,為半(bàn)導體(tǐ),顯(xiǎn)示(shì)器和其他精密機械行業(yè)提供了用非接(jiē)觸式表麵測(cè)量方(fāng)法(fǎ)進行測量(liáng)的(dí)解決(jué)方(fāng)案。 NanoSystem已經(jīng)建立了非接(jiē)觸式(shì)2D,3D測量和檢測(cè)係統的核心技術(shù),並成為(wéi)該市場解(jiě)決方案(àn)的Leader。
高精(jīng)度(Z軸分辨率達0.1nm)的非接(jiē)觸式(shì)表(biǎo)麵(miàn)輪廓儀,采(cǎi)用白(bái)光掃描(miáo)幹(gān)涉技(jì)術,使(shǐ)客(kè)戶(hù)有(yǒu)能力看到,理解和糾正或保持產(chǎn)品(pǐn)質量(liáng)。
NanoSystem NV-3200非(fēi)接(jiē)觸(chù)式3D光(guāng)學輪廓(kuò)儀(yí)為(wéi)LCD,IC Package,Substrate,Build-up PCB,MEMS,Engineering Surfaces等領域提供納米級(jí)別精(jīng)度的(dí)測(cè)量.

包(bāo)括:非接觸(chù)3D形貌(mào)測量,更(gēng)廣(guǎng)的測量(liáng)範圍(wéi)(5mm可選(xuǎn)),自動(dòng)聚焦(jiāo)功能(néng)(可選(xuǎn)),拼接和綫(xiàn)路縱斷麵(miàn)等(děng)功(gōng)能。

NanoSystem NV-3200非(fēi)接觸式3D光學(xué)輪(lún)廓(kuò)儀(yí)技術參數
幹(gān)涉(shè)物鏡:5物(wù)鏡可(kě)選(程(chéng)控(kòng))
掃描範圍:0-180um(270um,5mm可(kě)選)
垂直分(fēn)辨(biàn)率(shuài):WSI:﹤0.5nm ,PSI :﹤0.1nm
橫向分辨率:0.2-4um(取決(jué)於(yú)物(wù)鏡和FOV)
傾斜度:±6°
工作(zuò)平(píng)台(tái):NV-P2020 200X200mm(程控)
NV-P4050 400X500mm(程(chéng)控(kòng))
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